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カテゴリ |
内容 |
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半導体関連 |
・ILD、STI、W、Cuダマシンプロセス ・Low-k材評価 ・スラリー、PAD、コンディショナ等CMP消耗部材の開発、評価 ・TSV |
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SiC |
・高平滑化CMP |
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MEMS |
・TSV ・絶縁層平坦化、犠牲層平坦化など |
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FPD |
・ITO平滑化、樹脂膜平坦化など |
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PCB |
・配線層、絶縁層平坦化など |
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その他 |
・各種基盤材、酸化膜、金属膜平坦化、平滑化 |